第三條 本規(guī)定所稱非正常申請專利的行為是指：
（一）同一單位或者個(gè)人提交多件內(nèi)容明顯相同的專利申請；
（二）同一單位或者個(gè)人提交多件明顯抄襲現(xiàn)有技術(shù)或者現(xiàn)有設(shè)計(jì)的專利申請；
（三）同一單位或者個(gè)人提交多件不同材料、組分、配比、部件等簡單替換或者拼湊的專利申請；
（四）同一單位或者個(gè)人提交多件實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)或者技術(shù)效果明顯編造的專利申請；
（五）同一單位或者個(gè)人提交多件利用計(jì)算機(jī)技術(shù)等隨機(jī)生成產(chǎn)品形狀、圖案或者色彩的專利申請；
（六）幫助他人提交或者專利代理機(jī)構(gòu)代理提交本條第一項(xiàng)至第五項(xiàng)所述類型的專利申請。 | 第三條 本規(guī)定所稱非正常申請專利行為是指任何單位或者個(gè)人，不以保護(hù)創(chuàng)新為目的，為牟取不正當(dāng)利益或者虛構(gòu)創(chuàng)新業(yè)績、服務(wù)績效，單獨(dú)或者共同提交各類專利申請、代理專利申請、轉(zhuǎn)讓專利申請權(quán)或者專利權(quán)等行為。
下列各類行為屬于本規(guī)定所稱非正常申請專利行為：
（一）所提交的多件專利申請的發(fā)明創(chuàng)造內(nèi)容明顯相同、或者實(shí)質(zhì)上由不同發(fā)明創(chuàng)造特征或要素簡單組合變化而形成；
（二）所提交專利申請存在編造、偽造或變造發(fā)明創(chuàng)造內(nèi)容、實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)或技術(shù)效果，或者抄襲、簡單替換、拼湊現(xiàn)有技術(shù)或現(xiàn)有設(shè)計(jì)等類似情況的；
（三）所提交多件專利申請的發(fā)明創(chuàng)造內(nèi)容系主要利用計(jì)算機(jī)技術(shù)等隨機(jī)生成的；
（四）所提交專利申請的發(fā)明創(chuàng)造系明顯不符合技術(shù)改進(jìn)或設(shè)計(jì)常理，或者變劣、堆砌、非必要縮限保護(hù)范圍的；
（五）所提交專利申請的發(fā)明創(chuàng)造與申請人、發(fā)明人實(shí)際研發(fā)能力及資源條件明顯不符的；
（六）將實(shí)質(zhì)上與特定單位、個(gè)人或地址關(guān)聯(lián)的多件專利申請惡意分散、先后或異地提交的；
（七）出于非正當(dāng)目的轉(zhuǎn)讓或受讓專利申請權(quán)或?qū)＠麢?quán)，或者虛假變更發(fā)明人、設(shè)計(jì)人的；
（八）專利代理機(jī)構(gòu)、專利代理師，或者其他機(jī)構(gòu)或個(gè)人，代理、誘導(dǎo)、教唆、幫助他人或者與之合謀實(shí)施各類非正常申請專利行為的；
（九）違反誠實(shí)信用原則、擾亂正常專利工作秩序的其他非正常申請專利行為及相關(guān)行為。
本規(guī)定所稱非正常申請專利的行為是指：
（一）同一單位或者個(gè)人提交多件內(nèi)容明顯相同的專利申請；
（二）同一單位或者個(gè)人提交多件明顯抄襲現(xiàn)有技術(shù)或者現(xiàn)有設(shè)計(jì)的專利申請；
（三）同一單位或者個(gè)人提交多件不同材料、組分、配比、部件等簡單替換或者拼湊的專利申請；
（四）同一單位或者個(gè)人提交多件實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)或者技術(shù)效果明顯編造的專利申請；
（五）同一單位或者個(gè)人提交多件利用計(jì)算機(jī)技術(shù)等隨機(jī)生成產(chǎn)品形狀、圖案或者色彩的專利申請；
（六）幫助他人提交或者專利代理機(jī)構(gòu)代理提交本條第一項(xiàng)至第五項(xiàng)所述類型的專利申請。
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